微电子技术杂志审稿周期

3条回答

s_car

在电子产品微型化、多功能化的发展趋势下,单个焊点所承载的电流密度和焊点的服役温度与日俱增,这就给微电子封装焊点的可靠性带来了巨大的挑战。电迁移失效作为微电子产品一种新的失效形式,而逐渐引起广泛的关注。电迁移效应的物理本质是在电子风力驱使下,焊点中的原子沿着电子流方向由阴极不断向阳极迁移的现象。  电迁移效应加速电子元器件的失效,缩短了电子产品的有效使用寿命,严重的影响了微电子封装焊点的可靠性。  基于以上研究,本文采用引线对接焊点为研究对象,在排除电流拥挤效应和焦耳热效应对电迁移效应造成干扰的前提下,首先研究了在78×10~4A/cm~2电流密度、100℃和125℃条件下加载对Cu/Sn-0Ag-5Cu/Cu焊点可靠性的影响。结果发现电流加载下阳极和阴极界面IMC的生长呈现明显的极性效应,阳极界面IMC的生长被增强,阴极界面IMC的生长被抑制。  认为是Cu原子的扩散主导界面IMC的生长,在电子风力、化学势梯度和背应力三者的综合作用下,阳极界面IMC的生长与加载时间呈抛物线关系。焊点的抗拉强度随着加载时间迅速下降,断裂模式由纯剪切断裂转为微孔聚集型断裂,并最终向脆性断裂转变,断裂位置由钎料中向阴极界面处转移。    作为对比分析研究了Cu/Sn-0Ag-5Cu/Cu焊点在100℃、125℃、150℃等温时效对焊点可靠性的影响。结果表明界面IMC随时效时间的延长而不断生长,时效温度越高界面IMC的生长速率越大,约为相同温度下电迁移试样阳极界面IMC生长速率的1/30。时效时间延长,焊点的抗拉强度下降,其下降速率约为相同温度下电迁移试样的1/9。高温长时间时效,界面处有Kirkendall空洞出现。焊点的断裂模式由纯剪切断裂变为微孔聚集型断裂,但断裂位置始终位于钎料中。同时还研究了Cu/Sn-0Ag-5Cu/Ni焊点在130℃等温时效过程中界面IMC的生长情况,发现母材Ni侧的界面IMC的生长速率比母材Cu侧稍慢,界面IMC的成分十分复杂。最后对Cu/Sn-9Zn/Cu焊点在78×10~4A/cm~2电流密度、125℃加载条件下的电迁移现象进行了研究,发现了阴极和阳极界面IMC都增厚,且阴极界面IMC生长速率更大的异常现象。  分析界面IMC成分后认为,是由Sn原子的扩散主导IMC的生长导致的

navi2008

传感器与执行器不错的微加工与微制造也还可以,就是jmm 如果想快就找欧洲的小期刊,不过一般费用比较高,准备1万大洋应该够了

qiuxue6666?

该期刊一直以来都是核心期刊来的。没有改变---品 优刊 文章发表网*

微电子技术相关问题

  • 微电子技术杂志投稿流程

    微电子学与计算机官网网页链接

    我俄洛伊
  • 微电子技术杂志投稿费用多少

    发表一篇论文发表的版面费是与刊物级别有关的。目前主要分为:普刊、核心期刊。对于普刊来说就是:省级类的期刊和国家级期刊,而核心类的期刊主要分为:北大核心、南大核心、cscd核心、sci核心、ei核心、科技核心等等。对于费用的问题来说普刊的自然要比核心类的期刊低很多了。不同的人发表论文的作用也不同:1、评职称(晋升职称):研究生毕业需要;教师、医护人员、科研院所的人员、企业员工等晋升高一级的职称时,发

    wymoonstar
  • 微电子技术杂志投稿要求

    电子系统设计,上海微电子技术和应用,国际电子商情,电子工程专辑

    zuzu357
  • 微电子技术杂志投稿格式

    本科毕业设计(论文)  文献综述  院 (系):  专 业:  班 级:  学生姓名: 学 号:  年 月 日  本科生毕业设计(论文)文献综述评价表  毕业设计(论文)题目  综述名称 注意综述名称(综述内容中不要出现本课题怎么样等等)  评阅教师姓名 职称  评 价 项 目 优 良 合格 不合格  综述结构 01 文献综述结构完整、符合格式规范

    sipanwangyun
  • 微电子技术杂志怎么投稿

    中文核心期刊有点难发(有些讲关系的),发中国科技核心期刊吧,我感觉编辑要负责任得多(并且网上投稿,进度和录用都能及时知道),也是官方认可的国家级期刊。

    ztj_nwu
  • 微电子技术杂志难不难

    是个好专业,但确实很难学。要有心理准备。虽然混也能混过去,但是学不到真本事的话专业再好也是白搭。另外这个专业的人比较少,所以毕业找工作不难。加油吧~ 希望你成功!

    舒然灵儿
  • 微电子技术杂志版面费

    1700

    梦时光流年
  • 微电子技术杂志审稿周期

    在电子产品微型化、多功能化的发展趋势下,单个焊点所承载的电流密度和焊点的服役温度与日俱增,这就给微电子封装焊点的可靠性带来了巨大的挑战。电迁移失效作为微电子产品一种新的失效形式,而逐渐引起广泛的关注。电迁移效应的物理本质是在电子风力驱使下,焊点中的原子沿着电子流方向由阴极不断向阳极迁移的现象。  电迁移效应加速电子元器件的失效,缩短了电子产品的有效使用寿命,严重的影响了微电子封装焊点的可靠性。  

    bsge
  • 微电子技术杂志好投么

    微电子学这个好一点吧 该刊被以下数据库收录:CA 化学文摘(美)(2011)SA 科学文摘(英)(2011)JST 日本科学技术振兴机构数据库(日)(2013)Pж(AJ) 文摘杂志(俄)(2011)CSCD 中国科学引文数据库来源期刊(2013-2014年度)(含扩展版)核心期刊:中文核心期刊(2011)中文核心期刊(2008)中文核心期刊(2004)中文核心期刊(2000)中文核心期刊(19

    茹果
会员服务
  • 论文服务

    一站式论文服务,客服一对一跟踪服务。

微电子技术期刊 微电子技术杂志